一种优化芯片测试时间的方法

• 作者: 许梦龙 鲁小妹 赵来钖
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路制造 测试成本 流程优化 芯片测试 自动化测试设备
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 39-41
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.02.013

摘要

为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法.通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623％,从而有效降低成本,提高生产能力.