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摘要:
阐述在自动测试设备ATE中,将标准测试数据格式STDF转换成本文测试数据格式ATDF,直观认识测试数据的结构和内容,实现测试数据的收集、清洗、存储、分析与挖掘的产业化解决方案.
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文献信息
篇名 基于ATE的ATDF测试数据的研究
来源期刊 集成电路应用 学科
关键词 集成电路测试 自动测试设备 标准测试数据格式 文测试数据格式 计算机技术
年,卷(期) 2020,(11) 所属期刊栏目 创新应用|Applications
研究方向 页码范围 26-27
页数 2页 分类号 TN407
字数 语种 中文
DOI 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.11.010
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路测试
自动测试设备
标准测试数据格式
文测试数据格式
计算机技术
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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