基于ATE的ATDF测试数据的研究

• 作者: 王玉龙
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路测试 自动测试设备 标准测试数据格式 文测试数据格式 计算机技术
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 创新应用|Applications
• 页码范围: 26-27
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.11.010

摘要

阐述在自动测试设备ATE中,将标准测试数据格式STDF转换成本文测试数据格式ATDF,直观认识测试数据的结构和内容,实现测试数据的收集、清洗、存储、分析与挖掘的产业化解决方案.