基于 CDX-85 型激光传感器的主轴回转精度测量实验研究

• 作者: 冯延森 曹泉泉
• 来源期刊: 教育现代化
• 关键词: 实验教学 精密机床 回转精度 激光传感器 微纳米
• 年，卷（期）: 2020,（97）
• 所属期刊栏目: 调查及研究报告
• 页码范围: 192-196
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

摘要：机床主轴回转精度的测量是高校实验教学中的一门重要课程。针对当前传统传感器难以满足高精密机床测量的现状，本文提出采用CDX-85型高精度位移传感器进行主轴回转误差的检测，设计了测量系统和两种数据处理算法并进行了测量实验验证。在分析测量原理的基础上给出了主轴的基本测量结构，根据传感器的数据输出特点设计了最小包络圆和累加处理算法，可以精确计算得到主轴的回转误差。测量实验表明测量系统可以进行微纳米级别的主轴回转误差测量，比较适合实验室条件下的主轴回转精度实验课程。