TFT-LCD驱动信号与线残像的关系分析

• 作者: 林宁
• 来源期刊: 电子技术与软件工程
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 驱动信号 线残像
• 年，卷（期）: 2020,（23）
• 页码范围: 87-88
• 页数: 2页
• 分类号: TN8

摘要

本文对TFT-LCD技术进行研究,分析驱动信号与线残像之间的关系,总结影响两者关系的因素,优化问题解决方案,希望能和同行分享经验与方法,共同提高技术的整体应用效,为相关领域的发展进步作出更大贡献。