元器件长期储存可靠性规律研究

• 作者: 于望 温景超 刘开 何忠名 胡涵 赵彦飞
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 电子元器件 超期复验 质量等级 超期失效
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计|Research and Design
• 页码范围: 18-19
• 页数: 2页
• 分类号: TN607
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2021.02.007

摘要

阐述进口元器件的超期使用引出的电子产品可靠性问题,分析进口元器件长期储存后出现的失效状况,电子元器件长期储存的可靠性规律,从而对元器件的长期储存以及超期质量控制提出建议.