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典型存储器动态老炼试验方法研究与实现
典型存储器动态老炼试验方法研究与实现
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摘要：
存储器动态老炼试验对提高存储器的使用可靠性有着重要的作用.本文以SRAM器件为例,详细阐述了存储器动态老炼试验方法的研究方案,并实现了SRAM器件的动态老炼.该方法具有通用性,也适用于其它类型存储器的动态老炼试验.
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主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
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