基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
针对当前功能电路测试系统控制器数据处理复杂,硬件成本过高以及缺乏严格的供电保护的问题提出一种新型的工装控制器设计方案.利用示波器替代数据采集卡,得到稳定可靠的测试量,提供丰富硬件功能性检测分析方案同时简化了控制器数据处理,减少计算量;通过以太网通讯解决测试系统中主控制器的多路通讯的问题,降低硬件成本.
推荐文章
基于改进测试策略的数字电路板测试系统
测试系统
测试策略
边界扫描
故障覆盖率
模拟电路边界扫描功能性测试模型研究
模拟电路
边界扫描
ATAP控制器
功能测试
一种组合电路内建自测试的改进方法
伪随机测试序列
内建白测试
D算法
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 功能电路测试系统的改进
来源期刊 电子元器件与信息技术 学科
关键词 功能电路测试系统 示波器,以太网 lwip协议栈
年,卷(期) 2021,(6) 所属期刊栏目 电子元器件与材料
研究方向 页码范围 111-112
页数 2页 分类号 TN876.3
字数 语种 中文
DOI 10.19772/j.cnki.2096-4455.2021.6.049
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (27)
共引文献  (2)
参考文献  (5)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1997(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2007(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2012(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2013(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2017(7)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(7)
2018(7)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(6)
2019(6)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(3)
2021(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
功能电路测试系统
示波器,以太网
lwip协议栈
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件与信息技术
月刊
2096-4455
10-1509/TN
16开
北京市石景山区鲁谷路35号
2017
chi
出版文献量(篇)
2445
总下载数(次)
25
论文1v1指导