基于UVM的验证接口封装方法

• 作者: 范仁艳 支天
• 来源期刊: 电子世界
• 年，卷（期）: 2021,（7）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 142-143
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

验证是集成电路设计过程中的重要环节,目的是为了发现设计缺陷.验证周期和验证对象的复杂性成正比.在保证验证质量的前提下,验证效率也是验证的重要指标.在基于UVM的传统验证环境中, driver、monitor、scoreboard等组件存在大量冗余重复代码,编码效率低,不易维护和管理,可复用性差,从而影响验证效率.针对此问题,在UVM环境框架基础之上,提出一种验证接口封装方法,达到一份代码多方复用的效果,提高验证效率.