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摘要:
Semiconductor-based electronic devices usually work under multiphysics fields rendering complex electromagnetic-thermo-mechanical coupling.In this work,we develop a penalty function method based on a finite element analysis to tackle this coupling behavior in a metal/semiconductor bilayer plate—the representative unit of semiconductor antenna,which receives strong and pulsed electromagnetic signals.Under these pulses,eddy current is gener-ated,of which the magnitude varies remarkably from one plate to another due to the difference in electrical conductivity.In the concerned system,the metal layer generates much larger current,resulting in the large temperature rise and the nonnegligible Lorentz force,which could lead to delamination and failure of the semiconductor-based electronic device.This study provides theoretical guidance for the design and protection of semiconductor-based electronic devices in complex environments.
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关键词热度
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文献信息
篇名 Electromagnetic-Thermo-Mechanical Coupling Behavior of Cu/Si Layered Thin Plate Under Pulsed Magnetic Field
来源期刊 固体力学学报(英文版) 学科
关键词
年,卷(期) 2022,(1) 所属期刊栏目 ORIGINAL PAPERS
研究方向 页码范围 90-100
页数 11页 分类号
字数 语种 英文
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期刊影响力
固体力学学报(英文版)
双月刊
0894-9166
42-1121/O3
16开
武汉市珞瑜路1037号
1987
eng
出版文献量(篇)
1143
总下载数(次)
0
总被引数(次)
3267
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