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刊名：原子能科学技术

发表时间：2013-04-01

摘要:

介绍了LM837双极运算放大器分别在不同能量(1.8、1 MeV)不同束流、相同能量不同束流电子辐照环境中的响应特性及变化规律.分析了不同偏置状态下其电离辐照敏感参数在辐照后3种退火温度(室温,100、125℃)下随时间的变化,并讨论了引起电参数失效的机理.结果表明:与1 MeV辐照相比,1.8 MeV电子辐照引起的LM837辐射损伤更明显；辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化较零偏时的稍大；LM837辐照后的退火行为与温度有较大的依赖关系,而这种关系与辐照感生的界面态密度增长直接相关.

双极运算放大器电子辐照偏置条件退火

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2.【期刊】双极运算放大器低剂量率辐照损伤增强效应的变温加速辐照方法

作者：任迪远余学峰王义元郑玉展郭旗陆妩

刊名：原子能科学技术

发表时间：2009-09-01

摘要:

介绍了一种变温辐照加速评估双极电路低剂量率辐照损伤增强效应的新实验方法,并对各种实验现象的潜在机理进行了分析.结果显示,阶跃降低辐照温度的变温辐照法,不仅能较好地模拟双极运放电路实际空间低剂量率的辐照损伤,且比美军标的恒高温辐照法的总剂量评估范围明显增大,还可作为快速鉴别器件是否具有低剂量率辐照损伤增强效应的有效实验方法.

双极运算放大器 66Coγ辐照低剂量率辐照损伤增强效应加速评估方法

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3.【期刊】双极运算放大器ELDRS效应的变剂量率加速模拟方法初探

作者：陆妩任迪远郑玉展郭旗余学峰

刊名：半导体学报

发表时间：2008-07-01

摘要:

采用不同的变剂量率加速评估方法,研究了在不同辐照温度、不同辐照总剂量条件下,运算放大器电路随高剂量率转换到低剂率的辐射变化规律.结果表明,辐照时的转换总剂量、辐照温度及辐照剂量率均会对器件的响应特性产生影响,采用合适的变剂量率辐照方法可以达到既缩短辐照时间,又能加速评估器件ELDRS效应的目的.另外,对产生各种响应差异的机理进行了分析.

双极运算放大器 60C0γ辐照变剂量率加速评估

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4.【期刊】双极运算放大器辐射损伤的时间相关性

作者：高嵩陆妩任迪远牛振红刘刚

刊名：半导体学报

发表时间：2006-07-01

摘要:

通过一系列辐照实验对双极运放辐射损伤的时间相关性进行了研究.结果表明,双极运放的辐射损伤与时间有着密切的关系,通过调整辐照剂量率、退火温度及时间等参数进行循环辐照-退火实验,可以测评出器件的低剂量率辐射损伤情况,并从界面态角度对这种损伤机理进行了分析.

双极运算放大器辐射损伤时间相关性低剂量率加速评估

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