摘要:

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了"标准测试访问通道与边界扫描结构"的IEEE1149.1-1990标准以后,边界扫描技术得到了迅速发展和应用.利用这种技术,不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障.对芯片管脚的测试可以提供100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位.同时,大大减少了产品的测试时间,缩短了产品的设计和开发周期.边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点,而且测试费用也相对较低.这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用.特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景.本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构,讨论了边界扫描技术的具体应用.

摘要:

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构,并以PC机作为平台,利用边界扫描技术对某飞控计算机系统中的CPU电路板进行测试,实现了该电路板的可测性设计,体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高,控制简单方便,易于实现的优越性.

摘要:

边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能﹑互连及相互间影响进行测试的一种新方案.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用.

摘要:

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法,他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了"标准测试访问通道与边界扫描结构"的IEEE1149.1-1990标准以后,边界扫描技术得到了迅速发展和应用.利用这种技术,不仅能测试集成电路芯片输入/输出管脚的状态,而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障.对芯片管脚的测试可以提供100%的故障覆盖率,且能实现高精度的故障定位.同时,大大减少了产品的测试时间,缩短了产品的设计和开发周期.边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点,而且测试费用也相对较低.这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用.特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景.本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构,讨论了边界扫描技术的具体应用.