边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用

• 作者: 宋金杨 耿爽 郜月兰
• 来源期刊: 沈阳航空工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 边界扫描测试技术
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 电信工程
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 1918字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1248.2007.02.018

摘要

边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能﹑互连及相互间影响进行测试的一种新方案.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	耿爽		4	12	2.0	3.0
2	宋金杨		1	10	1.0	1.0
3	郜月兰		1	10	1.0	1.0