基于边界扫描技术的集成电路可测性设计

• 作者: 侯华敏 徐超强 杨虹
• 来源期刊: 重庆邮电学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 数字集成电路 可测性设计
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 通信与电子
• 页码范围: 686-688,723
• 页数: 4页
• 分类号: TN431.2|TN402
• 字数: 1754字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-825X.2006.06.003

摘要

随着集成电路规模的不断增大,芯片的可测性设计正变得越来越重要.研究了目前较常用的边界扫描测试技术的原理、结构,并给出了边界扫描技术的应用.重点研究了基于边界扫描的外测试方式,即电路板上芯片间连线的固定故障、开路和短路故障的测试;利用硬件描述语言Verilog设计出TAP控制器,得到TAP状态机的仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨虹	重庆邮电大学光电工程学院	106	285	8.0	10.0
5	徐超强	重庆邮电大学光电工程学院	2	16	2.0	2.0