边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用

• 作者: 冷东方 察豪 杨智
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描调试 BIT电路
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 信号/数据处理
• 页码范围: 50-54
• 页数: 4页
• 分类号: TN95
• 字数: 1725字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2000.01.010

摘要

提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试(BIT)电路的方法.此方法利用一片单片机的I/O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对VLST集成电路芯片的故障诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	察豪		1	4	1.0	1.0
2	杨智		1	4	1.0	1.0