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基于ARM的数字集成电路测试系统的研究
ARM
数字集成电路测试
软件架构
浅析数字集成电路故障检测仪
数字集成电路
故障检测仪
测试
设计
硬件描述语言与数字集成电路课程教学
硬件描述语言
电子设计自动化
可编程逻辑器件
数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析
测试
校准
通道
电平
时序
图形
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 微机控制型数字集成电路测试系统
来源期刊 电子与仪表 学科 工学
关键词 数字集成电路 微机控制 测试系统
年,卷(期) 1989,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 22-26
页数 5页 分类号 TN431.2
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1989(0)
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研究主题发展历程
节点文献
数字集成电路
微机控制
测试系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与仪表
双月刊
31-1446/TN
出版文献量(篇)
1004
总下载数(次)
5
总被引数(次)
0
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