数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析

• 作者: 刘文捷 贺志容 韩红星
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 校准 通道 电平 时序 图形
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 23-27
• 分类号: TN492
• 字数: 2743字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.007

摘要

文章介绍了数字集成电路测试系统的测试结构,分析了测试过程中各部分的工作原理,说明了测试的实现过程.在此基础上,提出了测试结构中各部分的校准原理与实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩红星		6	14	2.0	3.0
2	刘文捷		2	8	2.0	2.0
3	贺志容		5	19	2.0	4.0