使用半导体像位置检测元件的高精度像位置检测法

• 作者: 出泽正德 柯丰
• 来源期刊: 国外计量
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体 像位置 检测 摄像
• 年，卷（期）: 1992,（4）
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 分类号: TN948.7

摘要

【正】 目前为掌握对象物的状态或周围环境,广泛采用在对象物上安装发光二极管的方法,用光束照射,检测在对象物表面生成的亮点的像位置。例如用像位置检测设备检测亮点,根据三角测量的原理即可获得其三维的位置或运动方面的信息。在此方法中,提高测量精度的关