一种专用MCU芯片可测性设计的实现

• 作者: 孙艺 汪东旭
• 来源期刊: 电子与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 功能测试 MCU ASIC 芯片
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 页码范围: 6-10
• 页数: 5页
• 分类号: TN402

摘要

由于ＭＣＵ芯片的结构非常复杂，设计时采用一般的从结构出发的可测性设计技术（包括ＤＦＴ和ＢＩＳＴ）将使电路的规模大大增加。根据ＭＣＵ具有指令系统的特点，从功能测试的角度出发，提出了一种在ＭＣＵ设计中加入规模很小的模式选择电路，对部分电路作较小改动就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了可测性设计后进行了仿真。