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摘要:
采用红外分析、金相技术及和透射电子显微(TEM)技术分析了射频PCVD法沉积氮化硼膜的形成过程.结果表明,在沉积过程中,非晶态氮化硼(a-BN)作为领先相首先按平面方式生长,然后立方氮化硼(c-BN)在其上成核,并靠沉积原子表面迁移过程而长大,这种过程交替进行的结果,使膜层由a-BN和c-BN组成.膜层的表面呈层状+胞状形貌,说明薄膜的生长不仅取决于固体表面的扩散,而且也与气相成分的扩散有关.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 PCVD氮化硼膜形成过程及表面形貌的分析
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 立方氮化硼 薄膜形成 等离子体化学气相沉积(PCVD) 超硬材料 形貌
年,卷(期) 1999,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 177-181
页数 5页 分类号 O484.1
字数 1932字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.1999.02.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何家文 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 81 1138 18.0 30.0
2 张晓玲 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 9 80 3.0 8.0
3 胡奈赛 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室 17 245 7.0 15.0
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研究主题发展历程
节点文献
立方氮化硼
薄膜形成
等离子体化学气相沉积(PCVD)
超硬材料
形貌
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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