通过单扫描链的构造实现最小测试应用时间

• 作者: 叶以正 李兆麟 毛志刚
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试 最小测试应用时间 单扫描链 硬件开销
• 年，卷（期）: 1999,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 1280-1288
• 页数: 9页
• 分类号: TP302
• 字数: 8881字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.1999.12.009

摘要

在交迭测试体系[1,2]的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法,给出了单扫描链的构造规则.此外还分析了由于二选一开关的引入带来的硬件开销问题,提出了一个能够减少硬件开销的算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶以正	哈尔滨工业大学微电子中心	67	544	14.0	21.0
2	毛志刚	哈尔滨工业大学微电子中心	58	658	14.0	23.0
3	李兆麟	哈尔滨工业大学微电子中心	3	40	2.0	3.0