全扫描设计中多扫描链的构造

• 作者: 叶以正 李兆麟
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 多扫描链 测试应用时间 区间构造 连线复杂度
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 90-93
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 4151字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.02.027

摘要

本文在交迭测试体系[2,3]的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法,对于确定的测试向量集能够显著地减少测试应用时间.该构造方法根据规定的扫描链数,通过求解线性规划问题的方法确定扫描寄存器在扫描链上的优化的分布区间,从而构造多扫描链,最后根据对多扫描链进行连线复杂度的定性分析,求得连线复杂度最低的多扫描链的最优构造.