带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

• 作者: 李坤 雷加
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 混装电路 边界扫描 链簇测试
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 984-986
• 页数: 3页
• 分类号: TP29
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.08.002

摘要

在混装电路中,由不同的非边界扫描器件所组成的簇所需要的测试向量的数目可能是不同的,根据不同的簇所需要的测试向量的不同,可以将整个测试过程分为不同的测试阶段,每个测试阶段过后都会有一个或者多个扫描芯片处于bypass状态,而此时其长度只有1,也就是说每一个扫描链的长度是随着测试矢量的移出而变化的,整个扫描链的配置过程中,需要考虑这样两个问题:如何将扫描芯片分配给各条扫描链以及如何排列各条扫描链中扫描芯片的顺序,提出了一种如何配置单链的方法,即优化配置扫描芯片在扫描链中的顺序,这种方法同样可以被应用到多链.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷加	桂林电子工业学院电子工程系	38	197	8.0	11.0
2	李坤	桂林电子工业学院电子工程系	4	16	2.0	4.0