基于扫描链测试的HDL编码规范分析与研究

• 作者: 罗闳訚
• 来源期刊: 福建电脑
• 关键词: 可测性设计 扫描链测试 测试覆盖率 HDL编码规范
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 58-61,158
• 页数: 5页
• 字数: 4123字
• 语种: 中文

摘要

集成电路制造过程的缺陷会使部分芯片失效,因此需要通过高效的自动测试方法来对芯片的正确性进行检测.该文针对集成电路自动测试方法中的扫描链测试,提出了六条HDL编码规范,用于提高测试覆盖率从而提高测试效率.把这些编码规范应用到实例设计中,实验结果显示,遵循全部规范时测试覆盖率可达到100％,而不遵循其中的任一规范时测试覆盖率均有一定程度的减少.通过对各种情况下的故障分布进行分析表明,在前端设计时遵循这些HDL编码规范,能以最小的性能牺牲,获得较高的测试覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗闳訚		1	0	0.0	0.0