电子设备BIT状态的神经网络预测

• 作者: 徐永成 易晓山 温熙森
• 来源期刊: 数据采集与处理
• 学科: 工学
• 关键词: 机内测试 状态预测 神经网络 LM算法
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 391-394
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 字数: 2557字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9037.1999.03.029

摘要

首先对基于LM算法的神经网络预测性能进行研究.相对快速BP网络而言,其预测精度高、收敛速度快.然后提出将该方法应用于电子设备BIT输出及相关量的状态预测,对存在于航空电子设备中的压力、温度等环境应力的典型变化曲线进行了预测,并在环境应力影响下的BIT状态综合预测中得到验证.结果表明,利用时空两方面信息进行状态预测和综合分析是一条提高BIT诊断能力、降低虚警的重要思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温熙森	国防科技大学机电工程与仪器系	96	1778	24.0	38.0
2	徐永成	国防科技大学机电工程与仪器系	31	497	14.0	22.0
3	易晓山	国防科技大学机电工程与仪器系	24	268	10.0	15.0