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摘要:
【正】 Y98-61303-673 9906672逻辑嵌入式 DRAM 的 P~+外延晶片上薄 P~-中的高可靠双阱=Highly reliable double well in thin-P~--on P~+ epi-taxial wafer for logic-embedded DRAM[会,英]/Ya-mashita,T.& Komori,S.//1997 IEEE InternationalElectron Devices Meeting.—673~676(AG)Y98-61303-924 9906673每比特2F~2的三维单电子存储器单元结构=A 3-D
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文献信息
篇名 存储器、锁存器
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 分布式共享存储器 单电子存储器 锁存器 单元结构 嵌入式 高可靠 三维 双阱 用户级通信 外延
年,卷(期) 1999,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 113-114
页数 2页 分类号 TN
字数 语种
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1999(0)
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研究主题发展历程
节点文献
分布式共享存储器
单电子存储器
锁存器
单元结构
嵌入式
高可靠
三维
双阱
用户级通信
外延
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
出版文献量(篇)
10413
总下载数(次)
1
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71
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