一种SMD基座的缺陷分析

• 作者: 姚凤兵 邓世超
• 来源期刊: 压电晶体技术
• 学科: 工学
• 关键词: SMD基座 缺陷分析 微电子
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 55-58
• 页数: 4页
• 分类号: TN42

摘要

本文对两种SMD基座进行了对比分析，主要包括等效电路分析、测量对比、结构分析，找出了一种SMD基座的结构设计缺陷。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚凤兵		1	0	0.0	0.0
2	邓世超		2	0	0.0	0.0