超低副瓣天线近场测试关键技术探讨

• 作者: 傅德民 张士选 张福顺 李勇 毛乃宏
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 超低副瓣天线 近场测量 误差源 误差分析补偿 测试系统
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 368-373
• 页数: 6页
• 分类号: TN822.4
• 字数: 4329字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2000.03.026

摘要

文中就超低副瓣天线近场测试所涉及的若干关键技术和直接影响测试计算精度的各类误差源进行了探讨.特别对有关的误差分析补偿方法作了全面的阐述,提出了具有理论研究和工程实用价值的见解.通过在西安电子科技科技大学研制的近场测试系统上的计算机仿真和实验研究,结果表明,只要进一步提高测试系统的硬软件精度,并进行严格的误差分析补偿和诊断调整,实现超低副瓣天线的近场测试则是完全有可能的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张士选	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	17	59	4.0	7.0
2	张福顺	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	75	876	16.0	25.0
3	傅德民	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	59	546	12.0	21.0
4	李勇	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	28	174	6.0	12.0
5	毛乃宏	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	27	107	7.0	8.0