墙壁散射对超低副瓣天线平面近场测量的影响

• 作者: 于丁 傅德民 刘其中 毛乃宏
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 平面波谱展开理论 几何光学近似 暗室墙壁散射 超低副瓣天线 平面近场测量
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 天线理论与技术
• 页码范围: 166-172
• 页数: 7页
• 分类号: O441.5
• 字数: 4951字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2002.02.014

摘要

以二维问题为例,基于平面波谱展开理论和几何光学近似,利用计算机模拟的方法研究了暗室墙壁散射对超低副瓣天线平面近场测量的影响,得到了一些基本的规律和有用的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	傅德民	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	59	546	12.0	21.0
3	于丁	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	17	78	6.0	8.0
4	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0