超低旁瓣天线平面近场测量中随机误差对远场方向图的影响

• 作者: 孙继禹 崔金辉 杨莘元 郝静涛
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超低旁瓣天线 平面近场测量 随机误差
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 200-203
• 页数: 4页
• 分类号: TN820
• 字数: 2953字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2004.02.017

摘要

为了增强现代舰用天线系统的抗干扰能力,必须提高天线旁瓣的测量精度.基于此给出了用平面近场技术测量超低旁瓣天线时,旁瓣测量总误差与待测天线参数、近场幅相随机误差的数学模型:在相同的测量条件下,天线旁瓣越低,旁瓣测量误差越大;旁瓣测量总误差随着近场测量幅相误差的增大而增大;近场分布的口径效率与旁瓣电平的误差方差成反比.建立了近场幅相随机误差所引起的误差谱的表达式.对随机误差对远场方向图的影响进行了计算机仿真验证:结果表明,幅相误差主要影响远场方向图的旁瓣;该验证方法首次采用阵元数较少的线阵,仿真效果接近采用多阵元平面阵的情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨莘元	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	197	1357	17.0	27.0
2	崔金辉	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	13	58	5.0	6.0
3	孙继禹	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	4	15	2.0	3.0
4	郝静涛	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	1	5	1.0	1.0