超低副瓣天线平面近场测量截断误差分析

• 作者: 于丁 傅德民 刘其中 毛乃宏
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 超低副瓣天线 平面近场测量 有限扫描面 截断误差 扫描面宽度选择原
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 378-382
• 页数: 5页
• 分类号: TM930.115|TN827+.1
• 字数: 2925字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2001.03.025

摘要

给出了平面近场测量中由于有限扫描面截断所引起的远场相对误差的表达式以及扫描面宽度选择原则，用计算机模拟的方法研究了有限扫描面对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响，得到了一些基本的规律，并证实了扫描面宽度选择原则对于超低副瓣天线平面近场测量的适用性和正确性．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	傅德民	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	59	546	12.0	21.0
3	于丁	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	17	78	6.0	8.0
4	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0