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摘要:
研究一种双金属接触的GaAs半导体探测器在14MeV中子辐照下的性能. 测量了探测器经过1012n/cm2中子辐照剂量后的反向漏电流、电荷收集效率和最小电离粒子能谱,并且与 60 Co 1.25MeV光子辐照的测量结果相比较. 对中子辐照引起探测器时间性能变化和辐照损伤机制进行了探讨. 并根据实验结果提出了这种双金属接触GaAs探测器灵敏层分布的一种假设,理论计算和实验数据相符合.
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文献信息
篇名 MSM结构GaAs探测器的抗辐照性能
来源期刊 高能物理与核物理 学科 物理学
关键词 GaAs半导体 粒子探测器 辐照损伤
年,卷(期) 2000,(5) 所属期刊栏目 探测器
研究方向 页码范围 431-438
页数 8页 分类号 O4
字数 4787字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3052.2000.05.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邵传芬 上海交通大学微电子技术研究所 5 9 2.0 2.0
2 史常忻 上海交通大学微电子技术研究所 6 9 2.0 2.0
3 李澄 中国科技大学近代物理系 4 12 2.0 3.0
4 陈宏芳 中国科技大学近代物理系 3 3 1.0 1.0
5 张永明 中国科技大学近代物理系 4 21 3.0 4.0
6 吴冲 中国科技大学近代物理系 1 2 1.0 1.0
7 许咨宗 中国科技大学近代物理系 2 4 2.0 2.0
8 乐毅 中国科技大学近代物理系 1 2 1.0 1.0
传播情况
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2006(1)
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2007(1)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
GaAs半导体
粒子探测器
辐照损伤
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
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高能物理与核物理
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