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自保护MOS栅晶闸管
自保护MOS栅晶闸管
作者:
单建安
许曙明
高玉民
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
MOS栅晶闸管
自保护
正偏安全工作区
SOI
沟槽隔离
摘要:
本文报告一种叫做自保护MOS栅晶闸管的新器件.这种器件无寄生闩锁效应,并在较高阳极电压下展现出电流下降而不是饱和或上升的特性.因此,这种新器件具有令人满意的正偏安全工作区.器件的保护点由用户外接输入电阻自行调节,极大增加了使用的灵活性.此外,器件保护点电流和电压的温度系数均为负,这种特性使器件在高温工作时可更好地起自保护作用.
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文献信息
篇名
自保护MOS栅晶闸管
来源期刊
电子学报
学科
工学
关键词
MOS栅晶闸管
自保护
正偏安全工作区
SOI
沟槽隔离
年,卷(期)
2000,(11)
所属期刊栏目
学术论文
研究方向
页码范围
22-24,35
页数
4页
分类号
TN3
字数
1779字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0372-2112.2000.11.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
高玉民
西安交通大学电信学院
1
0
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2
单建安
1
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3
许曙明
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参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
MOS栅晶闸管
自保护
正偏安全工作区
SOI
沟槽隔离
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子学报
主办单位:
中国电子学会
出版周期:
月刊
ISSN:
0372-2112
CN:
11-2087/TN
开本:
大16开
出版地:
北京165信箱
邮发代号:
2-891
创刊时间:
1962
语种:
chi
出版文献量(篇)
11181
总下载数(次)
11
总被引数(次)
206555
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