纳米分辨近场光学显微成象技术现状

• 作者: 吴世法 潘石 简国树
• 来源期刊: 中国图象图形学报
• 学科: 工学
• 关键词: 近场光学 扫描近场光学显微镜 散射-扫描近场光学显微镜 光子扫描 隧道显微镜
• 年，卷（期）: 2000,（8）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 625-631
• 页数: 7页
• 分类号: TN27|TH742
• 字数: 5928字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8961.2000.08.001

摘要

介绍了纳米分辨近场光学显微成象技术现状.近场光学显微成象技术大体可分为小孔扫描近场光学显微镜(A-SNOM)、无孔径尖散射扫描近场光学显微镜(S -SNOM)和光子扫描隧道显微镜(PSTM)三种基本类型.除介绍这三类近场光学显微镜简要成象原理、现状和各自特点外,还重点介绍了大连理工大学纳米成象技术研究组PSTM的研究进展,即PSTM消假象数值模拟和实验研究结果,其实验空间分辨首次达到2.8nm线扩展函数半高宽的水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	简国树	大连理工大学物理系	25	95	6.0	8.0
2	潘石	大连理工大学物理系	45	254	9.0	13.0
3	吴世法	大连理工大学物理系	41	336	10.0	17.0