测量总论

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 二次电子发射系数 几何拓扑关系 测量装置 电子技术 测量数据 自动搜索 薄膜 总论 三维 真空
• 年，卷（期）: 2000,（12）
• 页码范围: 95-96
• 页数: 2页
• 分类号: TN

摘要

【正】 0020799MgO 薄膜二次电子发射系数测量装置的设计[刊]/吕晓军//真空电子技术.—2000,(5).—5～8(C)测量数据云三维密度及几何拓扑关系的自动搜索(见0021423)