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摘要:
本文介绍模糊推理协处理器VLSI芯片F200的设计, 给出了详细的芯片设计流程,并重点讨论了有关芯片的可测试性设计、设计验证和测试等问题.
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文献信息
篇名 实例研究-模糊芯片F200的设计、验证和测试
来源期刊 计算机工程与科学 学科 工学
关键词 芯片设计 设计验证 VLSI测试
年,卷(期) 2001,(5) 所属期刊栏目 故障诊断与测试
研究方向 页码范围 80-83
页数 4页 分类号 TP302.8
字数 2396字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-130X.2001.05.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈理 中国科学院计算技术研究所 18 233 9.0 15.0
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研究主题发展历程
节点文献
芯片设计
设计验证
VLSI测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程与科学
月刊
1007-130X
43-1258/TP
大16开
湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学计算机学院
42-153
1973
chi
出版文献量(篇)
8622
总下载数(次)
11
总被引数(次)
59030
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:http://www.863.org.cn
项目类型:重点项目
学科类型:信息技术
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