衰落信道下卷积码的软判决译码

• 作者: 李作为 杨义先 袁东风 隋爱芬
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软判决Viterbi译码 卷积码 信道状态信息(ChannelStateInformation) 量化门限 衰落信道
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 科研通讯
• 页码范围: 849-852
• 页数: 4页
• 分类号: TN919.3+2
• 字数: 3871字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2001.06.035

摘要

本文将交织、信道输出软信息、信道特征软信息相结合，研究Rayleigh衰落信道下卷积码的Viterbi软判决译码，在利用和不利用信道状态信息（CSI）两种情况下给出软判决的支路度量计算公式和性能仿真结果，计算了卷积码的性能上界；研究了解调器输出量化门限（量化级数目、量化间距）对译码性能的影响.结果与硬判决译码及AWGN信道的相关结论进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨义先	北京邮电大学信息工程学院	629	8372	39.0	65.0
2	袁东风	山东大学电子工程系	116	660	14.0	19.0
3	隋爱芬	北京邮电大学信息工程学院	15	173	7.0	13.0
4	李作为	山东大学电子工程系	2	19	2.0	2.0