全介质窄带滤光片膜厚均匀性分析

• 作者: 张晓晖 李晓平 汤玮 陈清明
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 全介质窄带滤光片 均匀性 中心波长
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: O484.4+.1
• 字数: 1907字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2001.06.019

摘要

对全介质窄带滤光片镀制时因基片位置不同引起的透射率曲线的变化进行了分析,得出了其透射率曲线形状基本保持不变仅中心波长发生偏移的结论.根据所得的结论,提出了用于DWDM光纤通信系统的滤光片的实际镀制的改进方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓平		10	33	3.0	5.0
2	陈清明		16	155	6.0	12.0
3	张晓晖		13	68	5.0	7.0
4	汤玮		1	4	1.0	1.0