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摘要:
分析了监控光带宽对薄膜淀积时膜厚极值点的影响,建立了模拟薄膜实际淀积过程的计算机模拟程序,通过对几种窄带滤光片膜系结构的模拟分析,得到了这些膜系对监控光带宽的基本要求.
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文献信息
篇名 监控光带宽对真空蒸镀窄带滤光片的影响
来源期刊 华中科技大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 窄带滤光片 监控光带宽 极值法 过正控制
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 57-59
页数 3页 分类号 O484.4+1
字数 2242字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1671-4512.2001.06.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨光 50 460 11.0 20.0
2 徐红春 16 62 5.0 7.0
3 陈清明 16 155 6.0 12.0
4 张晓晖 13 68 5.0 7.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
窄带滤光片
监控光带宽
极值法
过正控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
月刊
1671-4512
42-1658/N
大16开
武汉市珞喻路1037号
38-9
1973
chi
出版文献量(篇)
9146
总下载数(次)
26
总被引数(次)
88536
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