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摩尔定律与半导体设备
摩尔定律与半导体设备
作者:
翁寿松
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摩尔定律
光刻设备
互连设备
纳米半导体设备
摘要:
介绍了摩尔定律及其寿命和争议.同时介绍了ITRS2001及其对缩小芯片特征尺寸的争议.讨论了影响摩尔定律寿命的半导体工艺及设备,如光刻工艺及设备、互连工艺及设备和纳米半导体工艺及设备.并对发展我国半导体设备提出了建议.
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文献信息
篇名
摩尔定律与半导体设备
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
摩尔定律
光刻设备
互连设备
纳米半导体设备
年,卷(期)
2002,(4)
所属期刊栏目
综述
研究方向
页码范围
196-199
页数
4页
分类号
TN305
字数
4628字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1004-4507.2002.04.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
翁寿松
2
105
2.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
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光刻设备
互连设备
纳米半导体设备
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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