微分电位溶出法测定钼产品中低含量铅的研究

• 作者: 杨登峰 杨红忠
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 工学
• 关键词: 微分电位溶出法 铅 钼产品
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 42-43
• 页数: 2页
• 分类号: TF30+3
• 字数: 1544字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2002.01.013

摘要

在HCl-KCl底液中,Pb在峰电位-0.55V(对氯化银电极)处有一灵敏的溶出峰.本文详细探讨了溶出分析的最佳条件.本方法适用于钼精矿及氧化钼中Pb的测定,回收率为96%～103%,相对标准偏差RSD为1.64%～2.70%.