Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质微观结构及光学性能研究

• 作者: 乔成立 张喜燕 张颖 陈志武
• 来源期刊: 厦门大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 相变光盘 记录介质 光学 薄膜
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 化学·化工
• 页码范围: 54-59
• 页数: 6页
• 分类号: O74
• 字数: 3421字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0438-0479.2002.01.013

摘要

利用X射线衍射仪,分光光度计对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质材料非晶态薄膜相变前后结构的变化,光学性能进行了系统的研究,X射线衍射分析表明:SbSe非晶态薄膜退火后有Sb 的析晶峰,SbSe2有Se的析晶峰,符合化学计量比的Sb2Se3全部是Sb2Se3的共晶峰.GeSb2Te4非晶态薄膜在热退火过仇逐首先形成fcc亚稳相,升高退火温度,Fcc相转变为稳定的hex相,GeSb4Te4非晶态薄膜退火后在发生上述变化的同时,还有Sb 的析晶峰.分光光度计测试表明:Sb-Se系非晶态的光稳定性很不理想,随着波长的改变,反射率变化太快.对于Ge-Sb-Te系合金,在各种波段处,两种合金都有较大的反衬度,其非晶态的光稳定性也较理想,随着波长的改变,反射率变化不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张喜燕	西南交通大学材料工程系	34	208	10.0	13.0
2	陈志武	厦门大学材料科学与工程系	10	61	4.0	7.0
3	张颖	厦门大学材料科学与工程系	70	410	12.0	17.0