CMOS读出电路中的噪声及抑制

• 作者: 刘成康 张晓飞 袁祥辉
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: KTC噪声 1/f噪声 固定图形噪声 CMOS读出电路 相关双采样
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 170-173
• 页数: 4页
• 分类号: TN792
• 字数: 3957字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2002.03.007

摘要

CMOS读出电路中的噪声严重地制约了读出电路的动态范围,进而影响到焦平面阵列甚至成像系统的性能.文章对读出电路中KTC噪声、1/f噪声以及固定图形噪声的成因及抑制技术进行了分析和讨论,并给出了仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘成康	重庆大学光电工程学院	10	314	7.0	10.0
2	袁祥辉	重庆大学光电工程学院	87	846	16.0	25.0
3	张晓飞	重庆大学光电工程学院	6	375	5.0	6.0