深亚微米光记录测试仪

• 作者: 沈俊 陈仲裕
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光斑测量 亚微米记录 高密度光盘 测试仪器
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 光电子技术
• 页码范围: 334-336
• 页数: 3页
• 分类号: TN206|TP274
• 字数: 1118字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2003.04.013

摘要

详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30 mW,最小的探测时间为20 ns,探测的最小光点200 nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量.以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈仲裕	中国科学院上海光学精密机械研究所	20	269	11.0	16.0
2	沈俊	上海大学计算机工程与科学学院	6	15	3.0	3.0