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摘要:
主要讨论了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料氮化镓(GaN)薄膜的制备工艺、掺杂、衬底和缓冲层等相关问题,并提出了目前GaN研究中所面临的主要问题以及氮化镓材料的应用前景.
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文献信息
篇名 氮化镓薄膜的研究进展
来源期刊 微细加工技术 学科 物理学
关键词 氮化镓 薄膜 半导体
年,卷(期) 2003,(4) 所属期刊栏目 薄膜技术
研究方向 页码范围 39-44
页数 6页 分类号 O484
字数 4127字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨利 山东师范大学物理与电子学院 12 72 5.0 8.0
2 魏芹芹 山东师范大学物理与电子学院 14 58 4.0 7.0
3 薛成山 山东师范大学物理与电子学院 117 476 11.0 13.0
4 李忠 山东师范大学物理与电子学院 55 330 8.0 17.0
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研究起点
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期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
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