故障熵和故障测试优化

• 作者: 李演仁 邓斌
• 来源期刊: 空军雷达学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电路测试 故障诊断 熵
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TP206
• 字数: 3079字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8691.2003.03.011

摘要

为了提高单故障可及性电路故障测试的有效度,减少测试次数,从信息论的角度来分析电路故障测试的过程,提出了故障熵和故障信息量的概念,同时提出了电路故障测试的一种优化方法,并将其运用于实际的电路故障测试优化中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓斌	空军雷达学院雷达系统工程系	37	182	7.0	12.0
2	李演仁	空军雷达学院雷达系统工程系	13	42	3.0	6.0