疲劳状态检测元件的研究

• 作者: 周克印 张静 胡明敏 魏平
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 疲劳 损伤 无损检测 电阻器 剩余寿命 诊断
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 450-453
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.5
• 字数: 2552字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2003.09.003

摘要

疲劳状态检测元件对于检测在役的结构和构件的疲劳损伤状态具有独特的优势.对该元件的机理、工艺和性能进行了进一步的研究.采用四种箔材及两种制片工艺研制了疲劳状态检测元件,并对其性能进行了试验研究.实验结果表明,疲劳状态检测元件的阻值能够根据累积循环应变历程产生相应的变化.采用工艺1的疲劳状态检测元件的最大电阻变化率可达6.5%,而采用工艺2的最大电阻变化率为4.5%.研究结果表明,疲劳状态检测元件的制片工艺是影响其性能的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周克印	南京航空航天大学无损检测中心	57	403	12.0	16.0
2	胡明敏	南京航空航天大学无损检测中心	46	236	9.0	12.0
3	张静	南京农业大学工学院	50	428	12.0	18.0
4	魏平	南京航空航天大学无损检测中心	6	52	5.0	6.0