半正弦脉冲激励下双线性包装系统位移损坏边界确定的解析方法

• 作者: 宋超 廖鹰翔
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: 半正弦波 双线性材料 位移损坏边界 解析法
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 技术与装备
• 页码范围: 19-21,29
• 页数: 4页
• 分类号: TB48|TB485.1|TB487
• 字数: 2157字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3563.2003.03.006

摘要

运用包装动力学中的位移损坏边界新理论,选择简化自典型缓冲系统的双线性动力学模型,用解析方法首次获得了半正弦脉冲激励下的位移损坏边界.论文的分析思路与方法,为从理论上探讨不同力学特征缓冲系统的防护规律可能有所启迪.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖鹰翔	湖州师范学院理学院	5	9	2.0	2.0
2	宋超	浙江大学力学系	14	287	6.0	14.0