微处理器测试系统设计

• 作者: 关国梁 李曦 王恒才 赵振西
• 来源期刊: 小型微型计算机系统
• 学科: 工学
• 关键词: 微处理器功能测试 测试系统 软硬件协同设计
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 页码范围: 1555-1558
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 字数: 4504字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1220.2003.08.038

摘要

为了保证微处理器芯片设计的正确性,需要进行大量的仿真和测试,因此需要一个微处理器测试系统,以实现微处理芯片功能的测试和调试.本文分析了微处理器测试系统的功能、组成以及设计中的关键问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关国梁	中国科学技术大学计算机科学技术系	1	1	1.0	1.0
2	李曦	中国科学技术大学计算机科学技术系	119	751	13.0	21.0
3	王恒才	中国科学技术大学计算机科学技术系	3	26	1.0	3.0
4	赵振西	中国科学技术大学计算机科学技术系	38	450	12.0	19.0