La掺杂浓度对PLZT薄膜红外光学性质的影响

• 作者: 孟祥建 林铁 王根水 石富文 胡志高 褚君浩 黄志明
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: PLZT薄膜 红外光学性质 红外椭圆偏振光谱
• 年，卷（期）: 2003,（7）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 1624-1629
• 页数: 6页
• 分类号: O4
• 字数: 5173字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2003.07.013

摘要

采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了不同La掺杂浓度PLZT(x/40/60)薄膜. x射线衍射分析表明制备的PLZT(x/40/60)薄膜是具有单一钙钛矿结构的多晶薄膜. 通过红外椭圆偏振光谱仪测量了波长为2.5-12.6μm范围内PLZT薄膜的椭偏光谱,采用经典色散模型拟合获得PLZT薄膜的红外光学常数,同时也拟合获得PLZT薄膜的厚度. 随着La掺杂浓度的增大,折射率逐渐减小. 而消光系数除PLZT(4/40/60)薄膜外,呈现逐渐增大的趋势. 分析表明这些差异主要与PLZT薄膜的结晶性,如晶粒尺寸,以及颗粒边界、形貌、电子能带结构有关. 通过计算得到PLZT薄膜的吸收系数大于PZT薄膜的吸收系数. 随着La掺杂浓度的增大,静态电荷值逐渐减小. 这说明在PLZT中,电荷的转移是不完全的,它属于离子-共价混合的化合物.