门级故障到寄存器传输级故障的映射

• 作者: 江建慧 陈火军
• 来源期刊: 同济大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 故障模型 超大规模集成电路 门级电路 寄存器传输级电路
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1061-1066
• 页数: 6页
• 分类号: TP331|TP206.3
• 字数: 4847字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-374X.2004.08.018

摘要

以一组74系列集成电路产品和ISCAS85基准电路为例,研究了基本寄存器传输级(RTL)元件的门级单故障到RTL故障的映射关系.结果表明:①对大多数电路来说,仅考虑电路的单个原始输出端出错将无法达到所希望的门级故障覆盖率;②RTL电路的实现不宜包含异或门、与或非门(AOI)和或与非门(OAI);③在选择差错模型时,不同功能的RTL电路需要同时考虑的差错数是不相同的,功能相同但仅局部逻辑结构有差别的RTL电路可以考虑相同数目的差错.这些结论为研究超大规模集成电路的测试、容错设计与验证,以及基于故障注入的系统性能评估等技术提供重要依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建慧	同济大学计算机科学与技术系	91	680	14.0	21.0
2	陈火军	同济大学计算机科学与技术系	2	7	1.0	2.0